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  • 产品名称：Sintec新特 STAR-FGC-GA 阵列几何测量系统

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Sintec新特 STAR-FGC-GA 阵列几何测量系统

STAR-FGC-GA是v型槽阵列生产测量和过程控制的*终解决方案。通过一个单元，用户可以测量宽达15mm的多光纤阵列的v型槽块几何形状、芯对芯间距和芯X & Y偏置。STAR-FGC-GA具有1200um可视范围以及用于沿阵列的整个宽度扫描的自动横向工作台，是生产高质量v型槽阵列的*快和*灵活的方式。

特点和优势

  • 测量芯到芯间距，x偏置，y偏置和v型槽块几何形状。

  • 横向调整阶段和图像拼接测量超过15毫米阵列宽度。

  • 灵活的软件可以调整不同的光纤类型(SM, PM, MM)。

  • 1200um可视范围可同时测量多达4个核心，减少整体测量时间。

  • 可根据客户要求提供自定义数组。

规格

光学参数 STAR-FGC-GA
     可重复性
     核心X/ y偏移量* ＜ 0.1um
     芯间距离* ＜ 0.1um
     测量能力
     3根光纤阵列测量时间＜ 1分钟(不包括光纤制备)
     阵列宽度可达15mm
     光纤类型单模，多模，PM
     物理参数
     重量13kg(带提包44kg)
     尺寸0.5m x 0.5m x 0.2m
     工作温度0 - 50°c
     湿度5% - 95%，相对，不凝结
     数据接口3 X USB 3.1 (USB B到USB A:    0.5m电缆提供)
     计算机要求所有FGC系统都配有一台台式计算机
     运行*新视窗操作系统
*大可视范围 1200um
光纤照明-反射 多通道 525nm
光纤照明-传输 暗视野照明, 525nm LED










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